Zur Analyse unserer Syntheseprodukte und Ihrer Feinchemikalien stehen uns eine Reihe von Methoden zur Struktur- und Reinheitsbestimmung zur Verfügung.
Geräteausstattung:
BRUKER Avance III HD, 300 MHz, BBFO Probenkopf
Anwendungsgebiete:
- Schwerpunktmäßiges Messen der Kerne 1H, 13C, 11B, 19F, 29Si und 31P, die Messung weiterer Kerne ist möglich
- Messung von 2D-Spektren (COSY, HSQC, HMBC, NOESY, …) auf Anfrage
- Reinheitsbestimmungen organischer Verbindungen, Identifizierung / Strukturaufklärung von Stoffen bzw. Stoffgemischen unbekannter Zusammensetzung in Kombination mit HPLC, GC-MS, ICP-MS, REM-EDX, …
Geräteausstattung:
Advion expression L CMS
Advion plate express
| Ion Source | ESI, APCI or APCI/ASAP |
|---|---|
| Polarity | Positive & negative ion switching in a single analysis |
| m/z Range | m/z 10 to 2000 |
| Accuracy | +/- 0,1 m/z units of the entire acquisition range |
Elementanalysen, Spurenanalytik, quantitative Edelmetallbestimmung
Durch die Kombination aus Rasterelektronenmikroskop (REM) und energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) können lokale, quantitative Bestimmungen durchgeführt werden.
Die Elementanalyse ist ab Ordnungszahl 6 (Kohlenstoff) möglich. Für die meisten Elemente ≥ Natrium (Ordnungszahl 11) kann die Nachweisgrenze auf etwa 0,1 Gew.-% abgeschätzt werden.
| Auflösung | Hochvakuum-Modus: 3 nm (30 kV)*, 4 nm (20 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV) Niedervakuum-Modus: 4 nm (30 kV)*, 5 nm (20 kV) BSE |
|---|---|
| Beschleunigungsspannung | 0,5 – 30 kV |
| Vergrößerung | x5 bis x300.000 (Polaroid-Referenz) |
| Detektoren | Rückstreuelektronendetektor Sekundärelektronendetektor |
| Maximale Probengröße | Durchmesser：152 mm (125 mm abfahrbar) Höhe：50 mm |
- GC-MS
- GC-MS Headspace
- GC-FID
- GC-FID/ECD Headspace
- HPLC-UV/DAD